서울중앙지법, 27일 10시 30분 구속영장실질심사
[서울=뉴스핌] 이보람 기자 = 미국 수학능력적성검사(SAT) 시험지를 빼돌려 입시 브로커에 유출한 혐의를 받는 고등학교 교직원이 오는 27일 구속 심사를 받는다.
서울 서초동 서울중앙지방법원 yooksa@newspim.com |
26일 법원에 따르면 서울중앙지법은 원정숙 영장전담부장판사 심리로 27일 오전 10시 30분 업무방해 혐의 구속영장이 청구된 경기도 용인 한 고등학교 교직원 A씨에 대한 구속 전 피의자 심문(구속영장실질심사)을 진행한다.
경찰은 A씨가 지난 2017년부터 3년 동안 미국에서 이 학교로 배송된 SAT 시험지가 든 상자를 뜯어 사진을 찍은 뒤 이를 입시 브로커에게 유출한 것으로 의심하고 있다. 입시브로커에게 유출된 이 시험지는 학부모 수십여 명에게 건너간 것으로 전해졌다.
앞서 사건을 수사 중인 서울지방경찰청 광역수사대 지능범죄수사대는 지난 23일 A씨에 대한 구속영장을 신청했다.
경찰은 최근 해당 고등학교를 압수수색해 폐쇄회로(CC)TV 파일 등을 확보했으며 지난달에는 시험지 유출에 관여한 브로커 B씨를 구속하고 학원 강사와 학부모 등 20명을 업무방해 혐의로 입건, 수사를 이어가고 있다.
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